BurleighWA-1100光波長計采用基於邁克爾遜幹涉計的W**波長計技術,通過將被測光信號的幹涉條紋圖與內置的HeNe激光波長標準相比較,確定被測光信號的波長。
型號:WA-1100 價格:麵議 廠商性質:經銷商
安捷倫86120B多波長計是德多波長計係列86120B、86120C和86122A是理想的優化工具,可有效針對下一代應用開發、製造、安裝並驗證光元件和網絡。
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EXFOWA-1650光波長計 WA-1650/1150和WA-1100WAVEMETER光學波長儀來自Burleigh,是EXFO公司的產品。WA-1650/1150/1100專為連續波和調製激光源的光學波長測量而設計。這些WAVEMETER係統用於表征有源DWDM組件並校準無源DWDM組件,測試設備和測試站。EXFO的WA-1150,WA-1650和WA-1100具有基於
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ANDOAQ6140光波長計 AQ6140多波長計具有極高的波長測量精度和可分辨的頻率間隔,很好地滿足了市場需求及測量需要。它可以應用於多種測量場合,包括DWDM係統開發以及光器件的生產。
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EXFO光波長計 BurleighWA-1100光波長計采用基於邁克爾遜幹涉計的W**波長計技術,通過將被測光信號的幹涉條紋圖與內置的HeNe激光波長標準相比較,確定被測光信號的波長。
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EXFOWA-1150光波長計 WA-1150波長計光波長計提供高精度的波長測量,同步功率測量,專為在製造環境中表征WDM組件而設計。
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安捷倫86120A光波長計 Agilent86120A光學波長計是一種基於邁克爾遜幹涉儀的儀器,可測量700至1650nm的激光波長和光能。同時測量多個激光器,測量WDM(多個混合波分)信號和法布裏-珀羅激光線。
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EXFOWA-1100光波長計采用基於邁克爾遜幹涉計的W**波長計技術,通過將被測光信號的幹涉條紋圖與內置的HeNe激光波長標準相比較,確定被測光信號的波長。
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