WA-1100光波長計

BurleighWA-1100光波長計采用基於邁克爾遜幹涉計的W**波長計技術，通過將被測光信號的幹涉條紋圖與內置的HeNe激光波長標準相比較，確定被測光信號的波長。

型號：WA-1100    價格：麵議    廠商性質：經銷商

安捷倫 86120B 多波長計

安捷倫86120B多波長計是德多波長計係列86120B、86120C和86122A是理想的優化工具，可有效針對下一代應用開發、製造、安裝並驗證光元件和網絡。

型號：    價格：0    廠商性質：經銷商

EXFO WA-1650 光波長計

EXFOWA-1650光波長計 WA-1650/1150和WA-1100WAVEMETER光學波長儀來自Burleigh，是EXFO公司的產品。WA-1650/1150/1100專為連續波和調製激光源的光學波長測量而設計。這些WAVEMETER係統用於表征有源DWDM組件並校準無源DWDM組件，測試設備和測試站。EXFO的WA-1150，WA-1650和WA-1100具有基於

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ANDO AQ6140 光波長計

ANDOAQ6140光波長計 AQ6140多波長計具有極高的波長測量精度和可分辨的頻率間隔，很好地滿足了市場需求及測量需要。它可以應用於多種測量場合，包括DWDM係統開發以及光器件的生產。

型號：    價格：0    廠商性質：經銷商

WA-1100EXFO 光波長計

EXFO光波長計 BurleighWA-1100光波長計采用基於邁克爾遜幹涉計的W**波長計技術，通過將被測光信號的幹涉條紋圖與內置的HeNe激光波長標準相比較，確定被測光信號的波長。

型號：WA-1100    價格：0    廠商性質：經銷商

EXFO WA-1150 光波長計

EXFOWA-1150光波長計 WA-1150波長計光波長計提供高精度的波長測量，同步功率測量，專為在製造環境中表征WDM組件而設計。

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安捷倫 86120A 光波長計

安捷倫86120A光波長計 Agilent86120A光學波長計是一種基於邁克爾遜幹涉儀的儀器，可測量700至1650nm的激光波長和光能。同時測量多個激光器，測量WDM（多個混合波分）信號和法布裏-珀羅激光線。

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EXFO WA-1100 光波長計

EXFOWA-1100光波長計采用基於邁克爾遜幹涉計的W**波長計技術，通過將被測光信號的幹涉條紋圖與內置的HeNe激光波長標準相比較，確定被測光信號的波長。

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